SAM 軟體

PVA TePla 致力於為客戶提供出色全面的解決方案，除了超音波掃描顯微鏡等一系列硬體產品，我司還打造了專業的SAM軟體，專業軟體與精密硬體的相互作用，造就了系統的最佳性能。在專業軟體的幫助下，所有的SAM資料能夠得到全面且精確的映射和分析。

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PVA TePla 所有超音波掃描系統均有直觀的圖形使用者介面，與在Windows® 10平台上執行的WINSAM 8控製程式控制。 WINSAM 8簡單易學，同時可用於多個任務。

WINSAM 8可儲存和調用設備設定參數，而且每張影像都以TIFF格式儲存，所有SAM參數都可以被調用和重置，使得系統可以在相同的條件下進行多次分析。

針對特定的客戶和樣品，PVA TePla可以根據客戶的需求開發影像處理軟體。該類軟體可以用來處理有或者沒有晶片結構晶圓的影像。

我們特定的SECS/GEM介面為系統和所連接的生產控制系統之間提供了聯絡。此外，它們還可用於所有生產和系統資料、製程值和參數的傳輸。此介面的實現符合國際半導體設備和材料協會（SEMI）發布的SEMI設備通訊標準（SECS）的要求。

PVA TePla已經實現了SECS I、HSMS和標準SECS II的 “流”和 “功能”，可用於與主機進行串行和TCP/IP通訊。

SAMnalysis將出色的前處理和後處理演算法，與方便的結果處理和專門的管理系統相結合。

該軟體包是專為SAM數據的高階故障分析、品質控制和科學應用而開發的，它可以應用於材料分析、生物醫學問題和半導體行業的故障分析等領域。定量和定性的評估程序和演算法可以幫助分析記錄的Z形掃描。