SAM Premium系列

PVA TePla SAM Premium系列結合了聲學顯微鏡和光學顯微鏡。 它使超音波掃描平台與倒置光學顯微鏡或反射式光學顯微鏡相結合。 SAM Premium系列所使用的技術是以融合了尖端生產和研究技術的核心平台為基礎。 SAM Premium系列旗下各系統均具有高產量、高彈性與寬廣的掃描範圍等特性。 此外,各系統還可以根據客戶的要求進行擴展,並指定用於多樣化的應用。 

高頻和換能器技術可用於各類特定高階研究和工業應用,其中高頻範圍可高達400 MHz,並提供100 MHz和1000 MHz之間的可選擇頻率範圍。 此外,每個換能器都配備了專門的自動對焦功能。 

 

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高頻和換能器技術可用於各類特定高階研究和工業應用,其中高頻範圍可高達400 MHz,並提供5 MHz和400 MHz之間的可選擇頻率範圍。 此外,每個換能器都配備了專門的自動對焦功能。 其最優特徵在於,該系統可透過特殊的音爆高頻單元升級到1000MHz的聲學成像。 

一直以來,PVA TePla致力於為企業客戶與科研單位提供高階無損檢測設備,最大限度滿足客戶要求。 目前,我們的SAM Premium系列應用於工業領域與多個高科技產業,如半導體產業、電子/電氣產業等等。 

 

X和Y方向的掃描範圍可以單獨自訂,可選擇以下掃描範圍配置: 

  • 250µm x 250µm到320mm x 320mm 
  • 250µm x 250µm到502mm x 502mm 

HiSA(高速掃描軸)、動態穿透式掃描等獨一無二的功能,可實現高效能掃描成像結果。 HiSA(高速掃描軸)跟隨樣本弓形,具有動態聚焦功能。 動態穿透式掃描可在25MHz至100MHz的頻率範圍內使用。