SAM系列

PVA TePla SAM系列的超音波掃描顯微鏡使用簡單,操作方便,是一種用於製程控制和品質保證,與研究應用的無損檢測設備。 SAM系列旗下各型號均由一個符合業界標準的組件平台衍生而來,在此基礎上,融入最先進的生產和製造技術。 憑藉我司精密製造的高頻和換能器技術,我們的超音波掃描顯微鏡能夠在高達400MHz的超音波頻率範圍內進行詳細的聲學分析。 

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SAM系列系統是專用於品質和製程控制的無損檢測工具,可利用高達400兆赫的新射頻和換能器技術實現詳細的聲學調查。 簡單強大的圖形介面確保了最終用戶可以充分使用該系統性能和功能。 

 

X和Y方向的掃描範圍可單獨自訂,可選擇以下掃描範圍配置: 

  • 250µm x 250µm到320mm x 320mm 
  • 250µm x 250µm到420mm x 420mm 

模組化設計和獨特功能,如穿透式掃描、動態穿透式掃描、或“雙探頭” 和 “四探頭 ”掃描儀配置等,大大優化了掃描成像結果。