超音波檢查應用概覽 / 從材料測試到錯誤檢查

PVA TePla超音波掃描顯微鏡（SAM）主要特點在於，它能夠對不透明材料的內部結構進行無損檢測，且解析度等同於光學顯微鏡。近年來，客戶對無損成像及材料分析的需求大大增加。例如，品質控制檢測與製程優化對於半導體產業、微電子及MEMS產業至關重要，而超音波掃描顯微鏡技術也逐漸成為以上產業的首選技術。PVA TePla對於在實驗室與生產環境中使用超音波掃描顯微鏡具有豐富的經驗，可為客戶提供創新、成熟的解決方案。